用末端屏蔽法测量电磁式PT、正接线测量CT或变压器套管，有时会出现介损极小或负值的现象，这主要是绝缘受潮、表面泄漏或屏蔽不良引起的，可分析如下：

示意图

 等效电路图

      CX：试品

      C1：高压端对瓷套的杂散电容

      C2：低压端对瓷套的杂散电容

      R：瓷套表面泄漏对地电阻

      1：为试验电压

      2：为仪器输入

    这样，C1、C2、R形成T形网络，由于C1和R微分移相作用，使通过C2的电流超前，而使介损减小。设1为外加电压U、2接地电位，流过2的电流为：

    介质损耗因数为实部电流与虚部电流之比，由于第一项为负值，故介损因数减小。

    以CX=120pF，C1=1pF，C2=0.1pF，R=1000MΩ，CX无介损，按上式计算，T形网络引起的附加介损为：-0.025%

    同理， 检修用脚手架及包装箱引起正接线测量介质损耗减小：试品对包装箱形成杂散电容，也形成T型网络干扰。

    解决方法：

        1、擦干净瓷套表面的脏污。

        2、在阳光下曝晒试品或加热烤干瓷套 ，变压器套管吹干中间三裙。

        3、高压线尽量水平拉远，不要贴近瓷套表面 。

        4、改用末端加压法或常规法测量电磁式PT。

        5、新设备吊装前试验时，一定要拆掉包装箱和脚手架，移开木梯，解开绳套。做变压器套管时一定要放在套管架上试验，不能斜靠在墙上或躺放在地上。